京セラ株式会社（久芳徹夫社長）は、フラウンホーファー研究機構シリコン太陽光発電研究センター

（以下、フラウンホーファーＣＳＰ、ドイツ・ハレ市)が公表した耐ＰＩＤ（潜在的に誘発される出力低下）試験の結果、

同社製太陽電池がテュフ・ラインランドの長期連続試験に続き、独立機関による品質試験で大きな成功を収めた。

同試験結果で、京セラ製モジュールは高電圧負荷試験による出力の低下がなかった。

今回の第三者機関による試験結果は、京セラの３５年以上におよぶ実績と、

品質重視の製造工程から生まれた同社製モジュールの高品質・高信頼性を裏付けるものといえる。

ＰＩＤ は、太陽電池セルに高い負電圧が流れると（＝高電圧を負荷すると）出力が低下する現象で、

ＰＩＤ 現象によって、個々のモジュールだけでなく、太陽光発電システム全体の総出力や効率が低下する恐れがある。

フラウンホーファーＣＳＰ の試験によれば、出力低下に対する耐性や、その度合いは各社で大きく異なるという。